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產(chǎn)品簡介：顯微拉曼測(cè)試系統(tǒng)，集合了穩(wěn)定的顯微測(cè)試光路與高分辨掃描技術(shù)，適用于二維材料、量子點(diǎn)、鈣鈦礦等光電材料顯微光譜的應(yīng)用。
更新時(shí)間：2022-03-21瀏覽次數(shù)：4367產(chǎn)品分類
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顯微拉曼測(cè)試系統(tǒng)，集合了穩(wěn)定的顯微測(cè)試光路與高分辨掃描技術(shù)，適用于二維材料、量子點(diǎn)、鈣鈦礦等光電材料顯微光譜的應(yīng)用。
此系統(tǒng)具有以下特點(diǎn)：
1.測(cè)試準(zhǔn)確快速，無須直接接觸樣品
2.層疊式設(shè)計(jì)，增加光路方便快捷
3.一機(jī)多用，光路可用于光電流測(cè)試
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