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顯微探針臺(tái)系統(tǒng)適用于復(fù)雜光電器件測(cè)試表征,可以進(jìn)行IV、CV、光電流等測(cè)試。
其具有以下特點(diǎn):
1.三同軸線(xiàn)纜測(cè)量精度高
2.顯微成像(Olympus)質(zhì)量高
3.可定制多樣化,適配電致發(fā)光觀(guān)測(cè)、顯微光譜
4.使用Keithley源表
5.可增加冷熱臺(tái)對(duì)樣品進(jìn)行溫度控制
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